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上海仪电分析双光束紫外可见分光光度计760CRT

市场价:¥68,000.00
品 牌:上海仪电分析
主要参数:
波长范围: 190nm ~ 900nm
波长准确度: ±0.3nm (内装自动波长校正装置)
波长重复性: ≤ 0.2nm
分辨率: 优于 0.15nm

产品描述

上海仪电分析双光束紫外可见分光光度计760CRT


760CRT 双光束紫外可见分光光度计是软件基于Windows 7平台的自动记录分光光度计,界面友好、美观,操作简单,通过打印机可打印出图文合一的分析报告,并可将图谱数据或测试数据传送Execl进行处理,可将图谱贴至Word中发表。仪器具有波长扫描、时间扫描、定量分析、定波长测试、多波长测试等功能,适合用于医药、药学、生物化学、环境保护、化学工业等实验室的日常分析和研究工作的需要。

主要特点:

● 采用全息闪耀光栅,双光束 C - T 式光路结构,高分辨 率,低杂散光,测光精度高,稳定性能好。

● 微机控制,自动记录,打印机可在一张记录纸上打印出含 有光谱图、测试数据及操作参数的测试报告。 

● 光源自动转换(可在294nm ~ 364nm间任意设定) 

● 功能极强的光谱处理能力。 

● 采用长寿命进口光电倍增管,进口氘灯和长寿命钨灯。

软件特点:

● 信息存贮容量大,保存方便。  

● 软件提供四个图谱通道临时贮存图谱,可进行覆盖和重叠 方式的透过率、吸光度、吸收度对数和能量图谱扫描,透过 率和吸光度的图谱可轻松地相互转换,对图谱可进行图谱和 图谱、图谱和系的图谱可轻松地相互转换,对图谱可进行图 谱和图谱、图谱和系数的四则运算、导数运算。 

● 图谱的峰谷检测、缩放轻松自如。  

● 时间扫描可进行动力学研究。 

● 定量分析提供了浓度线性回归法、方法中提供了待定系数 法和系数输入法可进行曲线拟合及异常点剔除、2λ的测定。  

● 软件提供了定波长和多波长测试,并可对测试数据进行注 释,对同一样品多用户的测试提供了方便,多波长测试则可 进行多达20个点波长的测试。

● 可轻松地将贮存图谱的参数设置为仪器当前测试条件。  

● 打印机可进行参数与图谱打印、参数与图谱及数据打印、 参数与数据打印和工作曲线的打印。

技术指标:

● 测光方式: 双光束

● 单色器: Czerny - Turner

● 焦距: 200mm

● 光栅: 全息闪耀,1600线/mm

● 光束分光系统: 斩波器

● 检测器: 进口光电倍增管R928

● 光谱带宽: 0.08 ~ 5nm,间隔0.01nm连续可调

● 波长设定: 电脑输入

● 波长范围: 190nm ~ 900nm

● 波长准确度: ±0.3nm (内装自动波长校正装置)

● 波长重复性: ≤ 0.2nm

● 分辨率: 优于 0.15nm

● 光度准确度: ±0.3% (T) (以NBS930D测定) 

● 光度重复性: ≤ 0.2% (T)

● 杂散光: ≤0.08% (T) (在220nm处,以Nal测定)

 (在360nm处,以NaNO2测定)

● 基线平直度: ≤±0.002 (A)

● 噪声: ±0.3% (T) (100%处) ±0.1% (T) (0%处)

● 扫描速度: 快、中、慢

● 基线漂移: ≤±0.004 A/30min

● 电源电压: AC220V±22V 50Hz±1Hz

● 功率: 300 W

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