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上海儀電物光顆粒圖像分析儀WKL-702
將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像技術相結合，是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器，由光學顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字攝像機將圖像傳輸給電腦，通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行分析處理，具有直觀、形像、準確和測量范圍寬等特點。
1、圖像多種處理方法：影像增強、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調節(jié)、顆粒定位、自動分割等幾十種功能。
2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測量。
3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù)，以線性或非線性統(tǒng)計方式繪出分布圖。
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儀器型號 |
WKL-702 |
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測量范圍 |
0.1～3000（微米） |
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總放大倍數(shù) |
8000倍 |
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最大分辨率 |
0.1微米/像素 |
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重復性 |
誤差≤±1％ |
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自動分割速度 |
≤1秒 |
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數(shù)字攝像機(CCD) |
500萬像素 |
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數(shù)據(jù)儲存 |
電腦另配 |
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通信接口 |
USB |
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操作系統(tǒng) |
Windows 98/XP/7/8/10系統(tǒng)均可 |
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電源 |
AC220V ±10％ 200W |
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儀器尺寸 |
270mmX410mmX440mm |
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儀器凈重 |
15kg
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