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上海儀電分析 上海儀電分析
上海儀電分析儀器有限公司(原上海精密科學(xué)儀器有限公司分析事業(yè)部獨立改制而成,其前身是上海分析儀器廠和上海第三分析儀器廠),系上海儀電控股(集團(tuán))公司的控股子公司,上海首批高新技術(shù)企業(yè)。是一家專業(yè)的分析儀器制造公司。
圖片 產(chǎn)品名稱 產(chǎn)品參數(shù) 產(chǎn)品品牌 產(chǎn)品清單
上海儀電分析紫外可見分光光度計759S

市場價:¥19,980.00

光譜帶寬: 1.8nm
波長范圍: 190 ~ 1100nm
波長準(zhǔn)確度: ±0.5nm
上海儀電分析
上海儀電分析紫外可見分光光度計752G

市場價:¥7,800.00

光譜帶寬:4nm
波長范圍;200nm~1000nm
波長MAX允許誤差:±2nm
上海儀電分析
上海儀電分析雙光束紫外可見分光光度計L9

市場價:¥43,200.00

波長范圍:190 - 1100nm
波長準(zhǔn)確度:±0.3nm
波長重復(fù)性:≤ 0.1nm
上海儀電分析
上海儀電分析雙光束紫外可見分光光度計L8

市場價:¥39,200.00

波長范圍:190 - 1100nm
波長準(zhǔn)確度:±0.3nm
上海儀電分析
上海儀電分析紫外可見分光光度計752N

市場價:¥9,800.00

光譜帶寬: 4nm
波長范圍: 200 ~ 1000nm
波長準(zhǔn)確度: ±2nm
上海儀電分析
上海儀電分析紫外可見分光光度計752N Plus

市場價:¥10,800.00

光譜帶寬: 2nm
波長范圍: 200 ~ 1000nm
波長準(zhǔn)確度: ±2nm
上海儀電分析
上海儀電分析紫外可見分光光度計754N

市場價:¥11,800.00

光譜帶寬: 2nm
波長范圍: 200 ~ 1000nm
波長準(zhǔn)確度: ±2nm
上海儀電分析
上海儀電分析紫外可見分光光度計757

市場價:¥29,800.00

光譜帶寬: 2nm
標(biāo)配紫外反控軟件(僅757)
波長范圍: 190 ~ 1100nm
波長準(zhǔn)確度: ±0.5nm
上海儀電分析
上海儀電分析紫外可見分光光度計759

市場價:¥17,980.00

光譜帶寬: 2nm
波長設(shè)定: 觸控屏輸入
波長范圍: 190 ~ 1100nm
波長準(zhǔn)確度: ±0.5nm
上海儀電分析
上海儀電分析紫外可見分光光度計N4S

市場價:¥13,200.00

波長范圍:190nm~1100nm
波長最大允許誤差:±1nm
上海儀電分析
上海儀電分析紫外可見分光光度計N4

市場價:¥12,000.00

波長范圍:190nm~1100nm
波長最大允許誤差:±1nm
波長掃描速度: 快、中、慢
上海儀電分析
上海儀電分析紫外可見分光光度計L5S

市場價:¥19,980.00

光譜帶寬: 2nm
分波段掃描(限S款)
波長范圍: 190 ~ 1100nm
波長準(zhǔn)確度: ±0.5nm
上海儀電分析
上海儀電分析紫外可見分光光度計L5

市場價:¥17,980.00

光譜帶寬: 2nm
波長設(shè)定: 觸控屏輸入
波長范圍: 190 ~ 1100nm
波長準(zhǔn)確度: ±0.5nm
上海儀電分析
上海儀電分析紫外可見分光光度計L6S

市場價:¥23,980.00

光譜帶寬: 2nm
波長掃描速度: 快、中、慢 (限S款)
波長范圍: 190 ~ 1100nm
波長準(zhǔn)確度: ±0.3nm
上海儀電分析
上海儀電分析紫外可見分光光度計L6

市場價:¥21,980.00

光譜帶寬: 2nm
波長設(shè)定: 觸控屏輸入
波長范圍: 190 ~ 1100nm
波長準(zhǔn)確度: ±0.3nm
上海儀電分析
上海儀電分析雙光束紫外可見分光光度計L7

市場價:¥25,980.00

波長范圍: 190 ~ 1100nm
波長最大允許誤差: ±0.3nm
波長重復(fù)性: ≤0.1nm
光譜帶寬: 1.8nm
上海儀電分析
上海精科雙光束紫外可見分光光度計L8

市場價:¥39,200.00

波長范圍:190 - 1100nm
波長準(zhǔn)確度:±0.3nm
上海儀電分析
上海精科雙光束紫外可見分光光度計L9

市場價:¥48,800.00

波長范圍:190 - 1100nm
波長準(zhǔn)確度:±0.3nm
波長重復(fù)性:≤ 0.1nm
上海儀電分析
上海儀電分析雙光束紫外可見分光光度計760CRT

市場價:¥68,000.00

波長范圍: 190nm ~ 900nm
波長準(zhǔn)確度: ±0.3nm (內(nèi)裝自動波長校正裝置)
波長重復(fù)性: ≤ 0.2nm
分辨率: 優(yōu)于 0.15nm
上海儀電分析
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